
据 2026-09-02 材料产业消息,台积电已要求材料与设备合作伙伴开发约 5µm 级微凸块的键合与底部填充方案,而非将 HBM 与中介层的接口切换为铜混合键合。韩国与日本供应链已启动研发,量产时点各方说法不一(2027H2 或 2028H2),尚无定论。
此决策并非在密度上退让,而是选择「以凸块高度换取密度」:目前 HBM4 凸块约 10µm,目标是在保留已通过量产验证的焊料、底部填充、回流及检测体系的前提下减半高度,以控制堆叠总高(JEDEC HBM4 高度上限 775µm)。对 CMP 材料与设备而言,铜垫凹陷(recess)与表面粗糙度直接决定凸块能否在键合时充分接触,成为这道制程的关键技术要点,也催生了对更高精度 CMP 平整化的需求。
来源:NineScrolls(技术分析编译) https://ninescrolls.com/news/tsmc-asks-suppliers-for-5-m-hbm-microbumps-halving-hbm4-s-bump-height-instead